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加速老化测试相关资讯
加速老化测试(HAST)-可靠性测试

990990藏宝阁首页日期:2021-11-03 16:23:00

HAST高度加速的温度和湿度压力测试(HAST)是一个高度加速,以温度和湿度为基础的电子元件可靠性试验方法。环境参数, HAST也称为压力测试(PCT)或不饱和压力试验(USPCT)。其目的是评估测试样本,通过将试验室中的水蒸汽压力增加到一定的耐湿性。比试样内部的部分水蒸汽压力高得多。这个过程暂时加速水分渗入样品中。 查看全文>>

产品可靠性分析:HAST高压加速老化试验判断失效方法

日期:2021-11-03 16:11:00

随着半导体可靠性的提高,前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。 原理: 试样在高温高湿度以及偏压的苛刻环境下,加速湿气穿过外部的保护层,或沿着金属和外保护层的分界面穿透,造成试样的失效。 查看全文>>

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